Projects
計畫編號 |
計畫名稱 |
補助單位 |
補助金額 |
執行期間 |
職務 |
MOE-90-VLSI-20 |
VLSI教育改革計畫之快速雛型設計與單晶片應用之整合研究 |
教育部 |
540,000 |
民國90年 |
主持人 |
NSC-91-2215-E-235-001 |
整合低電壓內建電流測試與即時低功率測試排程控制架構之研究 |
國科會 |
305,700 |
91學年 |
主持人 |
NSC92-2815-C-235-002-E |
低面積、低功率、高速度的準位觸發式之強生計數器與其實現 |
國科會 |
39,000 |
民國92年 |
指導教授 |
MOE-93-VLSI-P01, P02 |
VLSI教育改革計畫之快速雛型設計與VLSI設計 |
教育部 |
1,000,000 |
民國93年 |
主持人 |
NSC-93-2215-E-018-004- |
基體偏壓技術應用在低壓低功高速系統晶片之研究 |
國科會 |
353,200 |
93學年 |
主持人 |
ITRI-S3-S94S02 |
系統晶片之低功耗測試與設計整合技術研究 |
工研院 |
670,000 |
民國94年 |
共同提案人 |
(FY94VLSI) |
VLSI教改推課計畫 |
教育部 |
2,750,000 |
民國94年 |
主持人 |
NSC-94-2215-E-018-007- |
低功高速低面積同步延遲鏡射器之研究 |
國科會 |
565,000 |
94學年 |
主持人 |
(FY95VLSI) | VLSI教改推課計畫 |
教育部 |
1,250,000 |
民國95年 |
主持人 |
NSC-95-2221-E-018-023- |
電源閘控系統晶片測試排程與功耗管理中降低尖峰功耗與縮短等待時間之研究 |
國科會 |
663,000 |
95學年 |
主持人 |
NSC-96-2815-C-018-008-E |
記憶體電流易測性設計與降低測試時間之研究 |
國科會 |
47,000 |
96學年 |
指導教授 |
MOE-97- |
前瞻晶片系統設計人才培育先導型計畫—「97年度前瞻課程發展計畫」—「可靠性積體電路設計 」 |
教育部 |
400,000 |
97年 |
主持人 |
NSC-97-2815-C-018-007-E |
積體電路預燒對可靠性成長之模擬與研究 |
國科會 |
47,000 |
97學年 |
指導教授 |
NSC-97-2221-E-018-027- |
奈米製程中兼具電流易測性與低峰快醒的電源閘控功耗管理系統之研究 |
國科會 |
482,000 |
97學年 |
主持人 |
NSC-98-2815-C-018-001-E |
低成本快速常態亂數產生器之研究 |
國科會 |
47,000 |
98學年 |
指導教授 |
NSC-99-2221-E-018-025- |
低功耗低成本高可靠度內容可定址記憶體之研究 |
國科會 |
375,000 |
99學年 |
主持人 |
NSC-99-2815-C-018-013-E |
低成本非等距查表電路之研究 |
國科會 |
47,000 |
99學年 |
指導教授 |
NSC-100-2221-E-018-014- |
高良率記憶體內建自我冗餘分析與修復方法之研究 |
國科會 |
545,000 |
100學年 |
主持人 |
NSC-101-2221-E-018-036- |
混合記憶體立方體內建自我修復之研究 |
國科會 |
508,000 |
101學年 |
主持人 |
NSC-102-2221-E-018-030- |
三維晶片中連線之內建自我測試與修復的研究 |
國科會 |
508,000 |
102學年 |
主持人 |
MOST-103-2221-E-018-032- |
三維晶片中矽穿孔的即線即速之自我修復 |
科技部 |
520,000 |
103學年 |
主持人 |
MOST-104-2221-E-018-025- |
三維晶片中時脈矽穿孔之即線自我修復 |
科技部 |
508,000 |
104學年 |
主持人 |
MOST-105-2221-E-018-024- |
三維晶片中電源、時脈及資料矽穿孔之老化監測與即線自我修復 |
科技部 |
944,000 |
105學年 |
主持人 |
MOST-108-2218-E-007-062- |
針對內建人工智慧之車用晶片且以【零故障】為目標之智慧型測試方法(1/3) |
科技部 |
6,000,000 |
109年 |
共同主持人 |
MOST-109-2221-E-018-019- |
數位神經網路低功耗高可靠加速技術之研究 |
科技部 |
651,000 |
109學年 |
主持人 |
MOST- 109-2224-E-007-006- |
針對內建人工智慧之車用晶片且以【零故障】為目標之智慧型測試方法(2/3) |
科技部 |
5,750,000 |
110年 |
共同主持人 |
MOST- 110-2221-E-018-017- |
神經網路加速技術及其可靠性設計 |
科技部 |
665,000 |
110學年 |
主持人 |