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(上午場為VLSI Test Technology Forum,限VTTF成員與受邀嘉賓參加)

九十八年第二次測試產學策略座談會

Fall 2009 Test Strategy Industry-Academia Panel

主題

(Theme)

裸晶良品測試之挑戰與策略

Challenges and Strategy in KGD Test

日期

民國九十八年九月十九日星期六

時間 12:00-17:00
12:00-13:30

報到、午餐

13:30-13:40

致詞

貴賓致詞


DAT聯盟主持人 呂學坤教授

工研院晶片中心 吳誠文主任
 
 
13:40-15:10
 
 
引言
 
 
各引言人
 
15:10-15:30

Coffee Break  (如討論踴躍將臨時改成進行中提供點心)


15:30-17:00
 

討論
 
 
全體出席貴賓
 

DAT

聯盟