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需求恆為工業之母，積體電路產業在消費性電子的高速、高容量而小巧玲瓏的需求下，製程走進奈米級而規模則邁向系統晶片、網路晶片與系統封裝。這些將逐漸拉大超大型積體電路的可靠性與出貨良率之間的差距！超大型積體電路在沒有完善的可靠性設計與規劃下，嚴重的退貨率與信譽危機，最終將使良率難以提昇，而測試也將在最後一哩功敗垂成！因此，超大型積體電路可靠性設計不得不面臨嚴峻的挑戰，更期待您來一起商討其可靠性設計與可靠性測試之間的相應策略。
今年第一次測試產學策略座談會將與「VLSI
Test Technology Forum (VTTF)」合辦，
第一次測試產學策略座談會於共同餐敘後於下午場進行，主要探討的主題為： 1.
良率：良律？－－可靠性設計的迷思；
2. 當前的易測性設計夠了嗎？──可靠性設計的挑戰；
3. 再一次產學的合力激盪 －－ 可靠性設計的策略。
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