Fall 2008 Test Industry-Academy Strategic Panel

低功耗測試技術的趨勢與策略

Advances in Low-Power Test for Circuits and Systems

十幾年來，學界與產業界已經體驗到測試時的功耗高達正常操作下數倍的這一事實，這使得系統晶片在測試時降低功耗將更形重要。

今年第二次測試產學策略座談會將與「第二次CAD產學座談會」合辦，共同的議題將針對「低功耗設計與測試的發展趨勢」。 上午場之測試產學策略座談會，主要探討的主題為：

1.  晶片系統、封裝系統，乃至3D封裝系統的功耗問題；

2.  低功耗測試技術的現況與趨勢；

3.  奈米製程中低功耗測試的意涵與策略；

4.  低功耗測試與低功耗設計的關係與整合。

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